Prof. Dr. Markus Bender | Professor für Mikro- und Nanotechnologien

• Physik-Grundlagen
• Konstruktionsmechanik (mechanische Bauelemente)
• Festkörperphysik (Bachelor und Master)
• Dünnschicht- und Oberflächenphysik
• Labor für Vakuumtechnologie und Beschichtungstechnik

• Mikro- und nanotechnische Sensoren zur Messung von Gasdrücken und -konzentrationen (z. B. Wasserstoff)
  • Wärmeleitfähigkeitssensoren zur Messung der Wasserstoff-Konzentration in Gasgemischen
  • Nanodrähte als Sensorelemente
• Oberflächenphysik
• Vakuumtechnologie
  • Dynamisches Ausgasverhalten von Wandmaterialien in Teilchenbeschleunigern und Fusionsreaktoren
• Wechselwirkung hochenergetischer Schwerionen mi t Materialien
  • Strahlenschäden und deren Funktionalisierung als Nanostrukturen
• Experiment-Instrumentierung

• HMWK Forschung für die Praxis: "Metallschäume für Sorptionsfallen zur Gasreinigung" (2021-2022)
  • Projektpartner:
    • ReiCat GmbH, Gelnhausen
    • Mac Panther Materials GmbH, Bremen
    • GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung GmbH (Darmstadt)
• Innovationsförderung Hessen - LOEWE-3 KMU: "Entwicklung und Integration von kleinen und präzisen MEMS-Mikrosensoren für selektive Wasserstoffmessung"
  • Projektpartner:
    • Archigas GmbH, Rüsselsheim
• Beantragt: BMBF FH-Kooperativ "Mikro-Nano-Interfacing für MEMS-integrierte Sensorik"
  • Projektpartner:
    • Messkonzept GmbH, Frankfurt am Main
    • GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung GmbH

• Stellvertretender Direktor des Instituts für Mikrotechnologien IMtech der Hochschule RheinMain

• Mitglied im Kommitee zur Forschung mit nuklearen Sonden und Ionen (KFSI)
• Fachkollegiat der DFG (Materialwissenschaften und Werkstoffkunde)

• Gutachter für die Zeitschriften Vacuum, Journal of Vacuum Science & Technology, Physical Review (ST) Accelerators & Beams, Nuclear Instrumentation & Methods A / B

• Seit 2020: Professur für Mikro- und Nanotechnologien an der Hochschule RheinMain
• Seit 2009: Wissenschaftlicher Mitarbeiter der Forschungsabteilung MAT am GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung in Darmstadt

• 2008-2009: PostDoc an der LMU München, Lehrstuhl Habs

• 2008: Promotion in Physik, Goethe-Universität Frankfurt am Main
• 2003: Diplom in Physikalischer Technik, Fachhochschule Wiesbaden

Erst-/Letzt-Autor:

• V. Velthaus, C. Trautmann, M. Bender, Mitigation of ion-induced desorption for accelerator components by surface treatment and annealing, Vacuum 211 (2023) 111965, doi: 10.1016/j.vacuum.2023.111965
• V. Velthaus, B. Tietz, C. Trautmann, F. Völklein,M. Bender, Desorptionmeasurements of accelerator-related materials exposed to different stimuli, Vacuum 194 (2021) 110608, doi: 10.1016/j.vacuum.2021.110608
• M. Bender, Pressure instabilities in heavy ion accelerators in O. B. Malyshev (ed.) Vacuum in accelerators Wiley-VCH (2019), ISBN: 978-3-527-34302-7
• M. Bender, D. Severin, M. Tomut, C. Trautmann, Material-related issues at high-power and high-energy ion beam facilities, J. Phys.: Conference Series 599 (2015) 012039, doi: 10.1088/1742-6596/599/1/012039
• M. Bender, H. Kollmus, M. C. Bellachioma, W. Assmann, UHV-ERDA investigations of NEG coatings, Nucl. Instr. Meth. B 268 (2010) 1986-1990, doi: 10.1016/j.nimb.2010.02.114
• M. Bender, H. Kollmus, H. Reich-Sprenger, M. Toulemonde, W. Assmann, An inelastic thermal spike model to calculate ion induced desorption yields, Nucl. Instr. Meth. B 267 (2009) 885-890, doi: 10.1016/j.nimb.2009.02.039
• M. Bender, H. Kollmus, W. Assmann, Desorption yields of dierently treated copper samples characterized with ERDA, Nucl. Instr. Meth. B 256 (2007) 387-391, doi: 10.1016/j.nimb.2006.12.101

Co-Autor (Auswahl):

• C. Länger, P. Ernst, M. Bender, D. Severin, C. Trautmann, M. Schleberger, M. Dürr, Single-ion induced surface modifications on hydrogen-covered Si(001) surfaces - significant difference between slow highly charges and swift heavy ions, New Journal of Physics 23 (2021) 093037, doi: 10.1088/1367-2630/ac254d
• M. Toulemonde, W. Assmann, B. Ban-d’Etat, M. Bender, A. Bergmaier, P. Boduch, S. Della Negra, J. Duan, A. S. El-Said, F. Grüner, J. Liu, D. Leli‘evre, H. Rothard, T. Seidl, D. Severin, J. P. Stoquert, K.-O. Voss, C. Trautmann, Sputtering of LiF and other halide crystals in the electronic energy loss regime, The European Physical Journal D 74 (2020) 144, doi: 10.1140/epjd/e2020-10040-9
• T. Pino, M. Chabot, K. Béroff, M. Godard, F. Fernandez-Villoria, K. C. Le, L. Breuer, M. Herder, A. Wucher, M. Bender, D. Severin, C. Trautmann, E. Dartois, Release of large polycyclic aromatic hydrocarbons and fullerenes by cosmic rays from interstellar dust, Astronomy & Astrophysics 623 A134 (2019) doi: 10.1051/0004-6361/201834855
• M. Herder, P. Ernst, L. Breuer, M. Bender, D. Severin, A. Wucher, Secondary ion formation on indium under nuclear and electronic sputtering conditions, J. Vac. Sci. Technol. B 36-3 (2018) 03F110, doi: 10.1116/1.5018721
• E. Dartois, M. Chabot, T. Pino, K. Béroff, M. Godard, D. Severin, M. Bender, C. Trautmann, Swift heavy ion irradiation of interstellar dust analogues. Small carbonaceous species released by cosmic rays, Astronomy & Astrophysics 599, A130 (2017) doi: 10.1051/0004-6361/201629646
• F. Meinerzhagen, L. Breuer, H. Bukowska, M. Bender, D. Severin, M. Herder, H. Lebius, M. Schleberger, A. Wucher, A new setup for the investigation of swift heavy ion induced particle emission and surface modifications, Rev. Sci. Instr. 87 (2016) 013903, doi: 10.1063/1.4939899
• C. L. Tracy, M. Lang, J. M. Pray, F. Zhang, D. Popov, C. Park, C. Trautmann, M. Bender, D. Severin, V. A. Skuratov, R. C. Ewing, Redox response of actinide materials to highly-ionizing radiation, Nature Communications 6 (2015) 6133, doi: 10.1038/ncomms7133
• O. Ochedowski, K. Marinov, G. Wilbs, G. Keller, N. Scheuschner, D. Severin, M. Bender, J. Maultzsch, F. J. Tegude, M. Schleberger, Radiation hardness of graphene andMoS2 field effect devices against swift heavy ion irradiation, J. Appl. Phys. 113 (2013) 214306, doi: 10.1063/1.4808460

Patente

• T. Hackler, H. Kollmus, M. Bender, F. Völklein, Kühlfalle, DE10 2010 061 144 A1 2012.06.14, Deutsches Patent und Markenamt (2010)