Symposium: Starkregen in Hessen
Symposium: Starkregen in Hessen - Infostände vor dem Audimax am Campus Kurt-Schumacher-Ring. © Hochschulkommunikation | Hochschule RheinMain
Etwa 50 Prozent der Überflutungsschäden in Deutschland werden durch Sturzfluten und Hangabflüsse verursacht, die durch lokale Starkregen ausgelöst werden. An der Hochschule RheinMain findet zu diesem Thema heute ein Symposium am Fachbereich Architektur und Bauingenieurwesen statt.
Niederschlag mit Radar messen
"2016 gab es in Hessen fast jede Woche lokalen Starkregen, die Kommunen sind sensibilisiert. Wir wollen mit unserer Forschung die Praxis optimal mit neuesten Erkenntnissen versorgen", erklärt Prof. Dr.-Ing. Ernesto Ruiz Rodriguez, Leiter des Wasserbaulaboratoriums am Fachbereich Architektur und Bauingenieurwesen. In der Fachtagung aus der Reihe Natur. Umwelt. Technik. des iwib werden die für die Ingenieurhydrologie verwendbaren Radarprodukte des Deutschen Wetterdienstes (DWD) vorgestellt, die besonders für die Erfassung von räumlich und zeitlich ungleichmäßigen Starkniederschlägen von Vorteil sind. Anhand von Praxisbeispielen werden die Anwendungsmöglichkeiten von hochaufgelösten Radarniederschlagsdaten gezeigt.
KLIMPRAX Starkregen
Die Veranstaltung ist eingebettet in das Projekt "KLIMPRAX Starkregen" des Fachzentrums Klimawandel des Hessischen Landesamtes für Naturschutz, Umwelt und Geologie (HLNUG) und wird in Zusammenarbeit mit dem DWD, der Deutschen Vereinigung für Wasserwirtschaft, Abwasser und Abfall e.V. (DWA) sowie der Ingenieurkammer Hessen durchgeführt. "Wir freuen uns sehr über die Kooperation. Mit der Hochschule RheinMain haben wir eine sehr gute ingenieurwissenschaftliche Expertise, um Erkenntnisse zu gewinnen und diese für die Praxis aufzubereiten", betont Prof. Dr. Thomas Schmid, Präsident des Hessischen Landesamtes für Naturschutz, Umwelt und Geologie.
Am Rande des Symposiums präsentieren verschiedene Unternehmen aus dem Themenkontext aktuelle Produkte zur Verarbeitung von Radarniederschlagsdaten in der Ingenieurhydrologie.