2010-05-26

Am 26. Mai 2010 besuchte eine Gruppe von 14 Studierenden zusammen mit den Professoren Fries und Hofmann den Hauptsitz von Texas Instruments Deutschland in Freising bei München. Die wichtigsten Geschäftsfelder von TI in Freising sind die Bereiche Analog, Mixed Signal und Embedded Processing Products sowie Advanced BiCMOS/CMOS Wafer Fab. Der Geschäftsbereich ist europaweit verantwortlich für Verkauf und Marketing, Produkt- und Anwendungsentwicklung sowie für den technischen und logistischen Support für analoge und digitale Halbleiter. Diese werden auch in einer eigenen Fab in Freising gefertigt mit Wafer im Durchmesser von bis zu 200 mm und Strukturgrößen von bis zu 25 um. In der Niederlassung sind ca. 1.200 Personen beschäftigt.

Nach der Begrüßung durch Herrn Dipl.-Ing. Ralf Eckhardt und Frau Balkenhol stellte Herr Dipl.-Phys. Philipp Menz in einem Vortrag die einzelnen Phasen der IC-Fertigung sowie die hohen Anforderungen an die Reinraumbedingungen und den Aufwand zur Kühlung sehr gut verständlich dar. Nach dem Mittagessen wurden diese Informationen durch einen Rundgang durch einzelne Stationen der IC-Fertigung und Prüfung beeindruckend vertieft. Anschließend stellte Frau Balkenhol die vielfältigen Möglichkeiten bei Texas Instruments für Praktika und Abschlussarbeiten für Studierende, insbesondere im Bereich Mikrocontroller, vor. Daneben können erfolgreiche Absolventen u.a. in die Bereiche Applikation, Design, Test und Qualitätskontrolle einsteigen. Es folgten mehrere hochinteressante Fachvorträge rund um den MSP430 Low Power Mikrokontroller. Dabei wurden die Bereiche Applikationsentwurf, Systemdesign und Testing ausgiebig diskutiert.

Ein herzliches Dankeschön an das Team von Texas Instruments für die hochinteressante Führung, die l ehrreichen Fachvorträge sowie die sehr angenehme Atmosphäre dieses Besuches. Die seit Jahren bestehende gute Zusammenarbeit zwischen Texas Instruments und der Hochschule RheinMain im Rahmen von Praktika, Diplomarbeiten, Lehraufträgen etc. wurde durch diese Exkursion vertieft.