IMTECH - AUSSTATTUNG
Bereich Mikrosystemtechnik
- Reinraum der Klasse 3
- Laserlithographiegerät µPG 101 von Heidelberg Instruments zur Herstellung von Strukturen im sub-μm-Bereich (bis etwa 0,6 μm) ohne Lithographiemasken
- RIE-ICP-Anlage (Plasmalab System 100 von Oxford Instruments) zur flexibleren Einstellung der Ätzparameter wie Anisotropie, Flankenwinkel, Ätzrate und Oberflächenrauheit
- Photolithographische Prozesse (Image-Reversal-Resisttechnologie, Dickresist-Technologie mit SU-8, vielfältige Standard-Resisttechnologien)
- Doppelseitiger Maskaligner (Karl Süss, Kontakt- bzw. Proximitybelichtung)
- Nasschemische isotrope und anisotrope Ätztechnik (für Silizium und Gläser)
- Trockenätztechnik (Reactive Ion Etching) und Ionenstrahlätzen
- Beschichtungstechniken (Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition)
- Wafer-Ritzautomat (Karl Süss), Wafersäge DISCO zum Vereinzeln von Silizium- und Glaswafern
- Aufbau zur Mehrstrahlinterferenzlithographie
- Theta – 2 Theta – Messplatz, z.B. zur Analyse der Beugung an optischen Mikrostrukturen
- Magnetron Sputter Anlage
- HF-Sputter Anlage
- Quattropol Massenspektrometer
- Thermische Beschichtungsanlagen
Zur Charakterisierung der Mikrostrukturen dienen u.a.:
- Rasterkraftmikroskop AFM-STM PARC Scientific CP2
- Schichtdicken- und Oberflächen-Profilometer DEKTAK 3
- Chromatischer Oberflächentaster PRECITEC CHROCODILE
- Mehrere Optische Mikroskope mit CCD-Kamera, Bildverarbeitung etc.
- Interferenzoptisches Schichtdickenmessgerät
- Spektroskopisches Ellipsometer und Weißlichtinterferometer
- Rasterelektronenmikroskop JEOL
Bereich Photonik
- Vibrationsgedämpfter Lasertisch M-RS2000 inklusive Lasersicherheitseinrichtung, Flowboxen und Klimatisierung
- Ti:Sapphire Festkörperlaseroszillator Mai Tai von Newport Spectra Phyasics, 84 MHz, 25fs, >400 mW @ 800 nm, Seed Laser des Laserverstärkers
- Festkörperlaser, Ascend 60, 527 nm, 1 kHz, 30 W, 140 ns, 35 mJ, Pump Llaser des Laserverstärkers und für ns-Lasertemper-Experimente
- Ti:Sapphire Laser Verstärker System Spitfire ACE von Newport Spectra Physics, 7 W @ 800 nm, 1 kHz and umstellbar auf 10 kHz, 100 fs. 7 mJ Pulsenergie @ 1 kHz für die Herstellung von Femtosekundenlaser Schwefel hyperdotiertem schwarzem Silizium
- Optisches Ergänzungskit zum Umbauen des Verstärkers auf 35 fs Laserpulsdauer
- Laserstrahl- und Pulscharakterisierungsausrüstung (Autokorrelator inklusive Detektormodule, IR-Viewer, Strahlleistungsmessgerät, Spektrometer zur Bandbreitenmessung, Strahlprofilometer)
- Computergesteuerte Strahlabschwächung
- 3D-Microscanner von Lightfab: kombiniertes Galvanometer-/mechanisches Laserscansystem
- Hochpräzise 3-achs mechanische Stage von Newport, 150 mm Verfahrweg
- Spektroskopisches Ellipsometer und Weißlicht-Spektrometer von Perkin Elmer (200-3300nm)
- UV-VIS-NIR Spektrometer mit Ulbrichtkugel von Perkin Elmer